本发明适用于太赫兹光学领域,提供了一种用于测量太赫兹光脉冲的电光取样装置及测量方法。本发明结合了近0°和45°光学偏置结构的优点,发明内容是利用一只线性起偏器、一只太赫兹电光晶体、两个双折射相位补偿器、一只偏振无关的宽带50:50分束器和两只同型号的线性偏振器组合,实现宽动态范围、强的消背底噪声能力和高调制度的电光取样仪。本发明的原理图如下图所示,即探测光先经过起偏器后进入电光晶体,而后被一宽带50:50分束器分成强度相等的两束光。这两束光分别经过一只相位补偿器和一只线性偏振器后分别被平衡探测器的两个接受端接收。后面的两只线性偏振器与前面的起偏器成正交设置。噪声的降低和线性范围的提高有利于拓宽自由空间时间域宽带太赫兹光谱技术的应用范围和有效地提高太赫兹光谱技术的实用化水平。


成果单位:深圳大学电子科学与技术学院         成果负责人:徐世祥

      联系电话:0755-26536623                       电子邮箱:szukjc@126.com